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GB/T1557-1989 GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

标准编号:GB/T1557-1989 整理时间:1989-03-31 浏览次数:22
资料名称: GB/T1557-1989 GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
标准类别:
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 已作废◎
作废日期: 2006-11-01◎
发布日期: 1989-03-31◎
实施日期: 1990-02-01◎
首发日期:
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期:
标准编号: GB/T 1557-1989
标准名称: 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
英文名称: The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption(仅供参考)
标准简介: GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 国家标准(GB) GB/T1557-1989 本标准规定了用红外吸收测定硅晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1Ω·cm的硅晶体中氧含量的测量。 压缩包解压密码:www.51zbz.com
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替代情况: 替代GB 1557-1983;被GB/T 1557-2006代替(仅供参考)
采标情况: ≈ASTM F121-83(仅供参考)
发布部门: 国家技术监督局(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 中国有色金属工业协会(仅供参考)
主管部门: 中国有色金属工业协会(仅供参考)
起草单位: 上海冶金研究所(仅供参考)
起 草 人: (仅供参考)
出 版 社:

中国标准出版社(仅供参考)

页  数: 平装16开, 页数:6, 字数:8千字(仅供参考)
书  号: (仅供参考)
下载次数: 6次
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