| 资料名称： | GB/T1555-1997 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1997-01-02◎ | ||
| 实施日期： | 1998-08-01◎ | ||
| 首发日期： | 1979-05-26◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | 2004-04-01◎ |
| 标准编号： | GB/T 1555-1997 | |
| 标准名称： | 半导体单晶晶向测定方法 | |
| 英文名称： | Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 国家标准(GB) GB/T1555-1997 本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | GB 1555-1979 GB 1556-1979 GB 5254-1985 GB 5255-1985 GB 8759-1988（仅供参考） | |
| 采标情况： | ＝ASTM F26-87a（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 峨嵋半导体材料厂（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开， 页数：8， 字数：12千字（仅供参考） | |
| 书 号： | 155066.1-14909（仅供参考） | |
| 下载次数： | 1次 | |
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