| 标准简介： |
GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 国家标准(GB) GB/T1557-2006 本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶中的间隙氧含量的方法。 本标准适用于室外温电阻率大于0.1Ω?cm的n型硅单晶和室温电阻率大于0.5Ω?cm中间的p型硅单晶中间隙氧含量的测量。 本标准测量氧含量的有效范围从1×1016at?cm-3到硅中间隙氧的最大固熔度。 压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 替代情况： |
替代GB/T 14143-1993;GB/T 1557-1989（仅供参考） |
| 采标情况： |
ASTM F1188-2000 MOD（仅供参考） |
| 发布部门： |
中华人民共和国质量监督检验检疫总局和国家标准化管理委员会（仅供参考） |
| 提出单位： |
（仅供参考） |
| 归口单位： |
中国有色金属工业协会（仅供参考） |
| 主管部门： |
中国有色金属工业协会（仅供参考） |
| 起草单位： |
峨眉半导体材料厂（仅供参考） |
| 起 草 人： |
（仅供参考） |
| 出 版 社： |
中国标准出版社 （仅供参考） |
| 页 数： |
7页（仅供参考） |
| 书 号： |
（仅供参考） |
| 下载次数： |
22次 |
| 下载地址： |
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