| 资料名称： | JB/T9499.7-1999 JB/T 9499.7-1999 康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1999-08-06◎ | ||
| 实施日期： | 2000-01-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | 2000-01-01◎ |
| 标准编号： | JB/T 9499.7-1999 | |
| 标准名称： | 康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量 | |
| 英文名称： | Method for chemical analysis of constantan resistance alloy The molybdosilicate blue photometric method for the deternination of silicon content（仅供参考） | |
| 标准简介： | JB/T 9499.7-1999 康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量 机械行业标准(JB) JB/T9499.7-1999 本标准适用于康铜电阻合金中硅量的测定。测定范围:0.010%～0.12% 。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | 原标准号ZB N05013.7-1989（仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家机械工业局（仅供参考） | |
| 提出单位： | 仪表功能材料标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 归口单位： | 仪表功能材料标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 重庆仪表材料研究所、四川仪表一厂（仅供参考） | |
| 起 草 人： | 苏明灿、梁培德等（仅供参考） | |
| 出 版 社： | 机械工业出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 4 页（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
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