资料名称: | SJ2320-1983 SJ 2320-1983 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 |
标准类别: |
语 言: | 简体中文 | ||
授权形式: | 免费下载 | ||
标准状态: | 已作废◎ | ||
作废日期: | ◎ | ||
发布日期: | ◎ | ||
实施日期: | 1988-06-01◎ | ||
首发日期: | ◎ | ||
复审日期: | ◎ | ||
出版日期: | ◎ |
标准编号: | SJ 2320-1983 | |
标准名称: | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 | |
英文名称: | Method of analysis by emission spectrum of impurities in Titanium dioxide for use in electronic ceramics(仅供参考) |
标准简介: | SJ 2320-1983 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 电子行业标准(SJ) SJ2320-1983 压缩包解压密码:www.51zbz.com | |
推荐链接: | 载入中 | |
替代情况: | 被SJ/T 10552-1994代替(仅供参考) | |
采标情况: | (仅供参考) | |
发布部门: | (仅供参考) | |
提出单位: | (仅供参考) | |
归口单位: | (仅供参考) | |
主管部门: | (仅供参考) | |
起草单位: | (仅供参考) | |
起 草 人: | (仅供参考) | |
出 版 社: | (仅供参考) |
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页 数: | 3页(仅供参考) | |
书 号: | (仅供参考) | |
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