| 资料名称： | SJ/T11222-2000 SJ/T 11222-2000 集成电路卡通用规范 第3部分：测试方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 2000-05-30◎ | ||
| 实施日期： | 2000-10-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | SJ/T 11222-2000 | |
| 标准名称： | 集成电路卡通用规范 第3部分：测试方法 | |
| 英文名称： | General specification for Integrated circuit cards Part 3: Test methods（仅供参考） | |
| 标准简介： | SJ/T 11222-2000 集成电路卡通用规范 第3部分：测试方法 电子行业标准(SJ) SJ/T11222-2000 本规范规定了与ISO/IEC 7810给出的定义相适应的识别卡特性用的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准，该基本标准可以是ISO/IEC 7810 或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。本规范定义了为一种或多种卡技术通用的测试方法。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | ISO/IEC 10373-1-1996 NEQ ISO/IEC 10373-3-1998 NEQ（仅供参考） | |
| 发布部门： | （仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | （仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | （仅供参考） |
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| 页 数： | 59页（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
| 下载次数： | 4次 | |
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