| 资料名称： | GB/T19248-2003 GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 2003-07-02◎ | ||
| 实施日期： | 2003-10-01◎ | ||
| 首发日期： | 2003-07-02◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | 2003-10-01◎ |
| 标准编号： | GB/T 19248-2003 | |
| 标准名称： | 封装引线电阻测试方法 | |
| 英文名称： | Test method for measuring the resistance of package leads（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法 国家标准(GB) GB/T19248-2003 本标准规定了测量封装引线电阻的方法。本标准适用于针栅阵列封装（PGA）引线电阻的测试。该测试技术也适用于其他微电子封装如无引线片式载体（LCC）、四边引线扁平封装（QEP）和陶瓷双列封装（CDIP）等引线电阻的测试。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | SEMI G25:1989,MOD（仅供参考） | |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局（仅供参考） | |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部（仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所（仅供参考） | |
| 起 草 人： | 陈裕馄、王琪（仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开， 页数：2， 字数：5千字（仅供参考） | |
| 书 号： | 155066.1-19918（仅供参考） | |
| 下载次数： | 1次 | |
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