| 资料名称： | GB/T14031-1992 GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1992-01-02◎ | ||
| 实施日期： | 1993-08-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | 2004-08-13◎ |
| 标准编号： | GB/T 14031-1992 | |
| 标准名称： | 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 | |
| 英文名称： | General principles of measruing methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 国家标准(GB) GB/T14031-1992 本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 上海件五厂（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
|
| 页 数： | 平装16开， 页数：17， 字数：30千字（仅供参考） | |
| 书 号： | 155066.1-9732（仅供参考） | |
| 下载次数： | 0次 | |
| 下载地址： | 点此打开推荐最佳下载地址 | |