| 资料名称： | GB/T12843-1991 GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | 已作废◎ | ||
| 作废日期： | 2005-10-14◎ | ||
| 发布日期： | 1991-04-28◎ | ||
| 实施日期： | 1991-01-02◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | GB/T 12843-1991 | |
| 标准名称： | 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 | |
| 英文名称： | General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits parameters for semiconductor integrated circuits（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 国家标准(GB) GB/T12843-1991 本标准规定了半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理。本标准适用于器件电参数的测试。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | 作废;（仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 起草单位： | 北京机械自动化所（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | （仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开， 页数：14， 字数：23千字（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
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