| 资料名称： | GB/T17444-1998 GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1998-07-03◎ | ||
| 实施日期： | 1999-05-01◎ | ||
| 首发日期： | 1998-07-30◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | 2004-04-15◎ |
| 标准编号： | GB/T 17444-1998 | |
| 标准名称： | 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 | |
| 英文名称： | The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 国家标准(GB) GB/T17444-1998 本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
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| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 主管部门： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 起草单位： | 中国科学院上海技术物理研究所（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 18页（仅供参考） | |
| 书 号： | 155066.1-15431（仅供参考） | |
| 下载次数： | 1次 | |
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