| 资料名称： | GB/T15651.3-2003 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 2003-01-01◎ | ||
| 实施日期： | 2004-08-01◎ | ||
| 首发日期： | 2003-11-24◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | 2004-08-01◎ |
| 标准编号： | GB/T 15651.3-2003 | |
| 标准名称： | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 | |
| 英文名称： | Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 国家标准(GB) GB/T15651.3-2003 本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | IEC 60747-5-3:1997,IDT（仅供参考） | |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局（仅供参考） | |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部（仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 起草单位： | 华禹光谷股份有限公司半导体厂（仅供参考） | |
| 起 草 人： | 陈兰、那仁、王守华（仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 16开， 页数：27， 字数：48千字（仅供参考） | |
| 书 号： | 155066.1-20664（仅供参考） | |
| 下载次数： | 7次 | |
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