| 资料名称： | GB/T4937-1995 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | 已作废◎ | ||
| 作废日期： | 2007-02-01◎ | ||
| 发布日期： | 1995-01-02◎ | ||
| 实施日期： | 1996-08-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | 1996-08-01◎ |
| 标准编号： | GB/T 4937-1995 | |
| 标准名称： | 半导体器件机械和气候试验方法 | |
| 英文名称： | Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 国家标准(GB) GB/T4937-1995 本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | 替代GB 4937-1986;被GB/T 4937.1-2006;GB/T 4937.2-2006代替（仅供参考） | |
| 采标情况： | idt IEC 749:1984（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 起草单位： | 上海市电子仪表计量测试所（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开， 页数：35， 字数：65千字（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
| 下载次数： | 26次 | |
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