| 资料名称： | GB1772-1979 GB 1772-1979 电子元器件失效率试验方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | 已作废◎ | ||
| 作废日期： | 2005-10-14◎ | ||
| 发布日期： | 1979-09-25◎ | ||
| 实施日期： | 1980-03-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | GB 1772-1979 | |
| 标准名称： | 电子元器件失效率试验方法 | |
| 英文名称： | Determination of failure rate of electronic elements and components（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB 1772-1979 电子元器件失效率试验方法 国家标准(GB) GB1772-1979 本标准规定了有可靠性指标的电子器件产品（以下简称产品）的定级、维持和升级试验程序。本标准适用于其寿命能合理地认为是服从指数分布，在本质上是同一设计、建立了可靠性质量管理和连续生产的产品。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 主管部门： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 起草单位： | 电子部四所（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | （仅供参考） |
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| 页 数： | 0（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
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