标准简介: |
GB/T 15757-2002 产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数 国家标准(GB) GB/T15757-2002 GB/T15757-2002 GB/T 15757-2002 产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数 国家标准(GB) GB/T15757-2002 本标准确定了有关表面缺陷的术语,允许表面缺陷的程度及测量表面缺陷方法的技术规范等内容。本标准适用于技术文件、技术图纸和科技出版物等。本标准的定义不涉及表面粗糙度和表面波纹度。本标准没有指出是否要进行表面缺陷的评定,这取决于具体的应用或表面的功能。对于特殊的应用和制造工艺,在必要情况下可附加专用的术语和定义。这些术语和定义将在相关的标准中规定。几种特殊表面缺陷将在其他标准中定义。 压缩包解压密码:www.51zbz.com |
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载入中 |
替代情况: |
GB/T 15757-1995(仅供参考) |
采标情况: |
eqv ISO 8785:1998(仅供参考) |
发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局(仅供参考) |
提出单位: |
全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会(仅供参考) |
归口单位: |
全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会(仅供参考) |
主管部门: |
国家标准化管理委员会(仅供参考) |
起草单位: |
中国机械科学研究院、时代集团公司(仅供参考) |
起 草 人: |
王欣玲、王忠滨、高思田、吴迅、王肇强、赵有祥(仅供参考) |
出 版 社: |
中国标准出版社(仅供参考) |
页 数: |
平装16开, 页数:16, 字数:30千字(仅供参考) |
书 号: |
(仅供参考) |
下载次数: |
18次 |
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