| 资料名称： | GB/T13387-1992 GB/T 13387-1992 电子材料晶片参考面长度测量方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1992-02-19◎ | ||
| 实施日期： | 1992-10-01◎ | ||
| 首发日期： | 1992-02-19◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | GB/T 13387-1992 | |
| 标准名称： | 电子材料晶片参考面长度测量方法 | |
| 英文名称： | Test method for measuring flat length on slices of electronic materials（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 13387-1992 电子材料晶片参考面长度测量方法 国家标准(GB) GB/T13387-1992 本标准规定了电子材料晶片参考面长度的测量方法。本标准适用于测量各种直径的硅抛光片、研磨片和切割片的参考面长度。也适用于测量砷化镓、蓝宝石和钆镓石榴石等材料晶片的参考面长度。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | ＝ASTM F671（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 北京有色金属研究总院（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开， 页数：7， 字数：9000（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
| 下载次数： | 0次 | |
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