| 资料名称： | GB/T5252-2006 GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 2006-07-18◎ | ||
| 实施日期： | 2006-11-01◎ | ||
| 首发日期： | 1985-07-22◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | 2006-11-01◎ |
| 标准编号： | GB/T 5252-2006 | |
| 标准名称： | 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 | |
| 英文名称： | Germanium monocrystal - inspection of dislocation etch pit density（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 国家标准(GB) GB/T5252-2006 本标准适用于位错密度0 --100000 的 型和 型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为[111]、[100]和[113]面。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | 替代GB/T 5252-1985（仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 中国有色金属工业协会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 北京有色金属研究总院（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开/页数：9/字数：13千字（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
| 下载次数： | 18次 | |
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