| 资料名称： | GB/T4326-2006 GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 2006-07-18◎ | ||
| 实施日期： | 2006-11-01◎ | ||
| 首发日期： | 1984-04-12◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | 2006-11-01◎ |
| 标准编号： | GB/T 4326-2006 | |
| 标准名称： | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | |
| 英文名称： | Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 国家标准(GB) GB/T4326-2006 本标准规定的测量方法适用于非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达104Ω·cm 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | 替代GB/T 4326-1984（仅供参考） | |
| 采标情况： | ASTM F76 NEQ（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 提出单位： | 中国有色金属工业协会（仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 北京有色金属研究总院（仅供参考） | |
| 起 草 人： | 王彤涵（仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 15页（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
| 下载次数： | 7次 | |
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