| 标准简介： |
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法 国家标准(GB) GB/T1550-1997 本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测定方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定，其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。 压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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载入中 |
| 替代情况： |
GB 1550-1979 GB 5256-1985（仅供参考） |
| 采标情况： |
＝ASTM F42-88（仅供参考） |
| 发布部门： |
国家技术监督局（仅供参考） |
| 提出单位： |
（仅供参考） |
| 归口单位： |
全国半导体材料和设备标准化技术委员会（仅供参考） |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会（仅供参考） |
| 起草单位： |
峨嵋半导体材料厂（仅供参考） |
| 起 草 人： |
（仅供参考） |
| 出 版 社： |
中国标准出版社（仅供参考） |
| 页 数： |
平装16开， 页数：11， 字数：16千字（仅供参考） |
| 书 号： |
155066.1-14168（仅供参考） |
| 下载次数： |
7次 |
| 下载地址： |
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