| 资料名称： | GB/T11685-2003 GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 2003-07-07◎ | ||
| 实施日期： | 2004-01-01◎ | ||
| 首发日期： | 1989-10-14◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | 2004-04-09◎ |
| 标准编号： | GB/T 11685-2003 | |
| 标准名称： | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 | |
| 英文名称： | Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 国家标准(GB) GB/T11685-2003 本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989（仅供参考） | |
| 采标情况： | NEQ IEC 60759:1983（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国防科学技术工业委员会（仅供参考） | |
| 提出单位： | 全国核仪器仪表标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 归口单位： | 核工业标准化研究所（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国防科学技术工业委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 核工业标准化研究所（仅供参考） | |
| 起 草 人： | 熊正隆（仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 26页（仅供参考） | |
| 书 号： | 155066.1-19982（仅供参考） | |
| 下载次数： | 4次 | |
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