| 资料名称： | GB/T5201-1994 GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1994-01-02◎ | ||
| 实施日期： | 1995-10-01◎ | ||
| 首发日期： | 1985-07-18◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | GB/T 5201-1994 | |
| 标准名称： | 带电粒子半导体探测器测试方法 | |
| 英文名称： | Test procedures for semiconductor charged particle detectors（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法 国家标准(GB) GB/T5201-1994 本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。全耗尽金硅面垒型探测器的某些性能测试也应参照本标准执行。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | GB 5201-1985（仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国核仪器仪表标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国防科学技术工业委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 北京核仪器厂（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开， 页数：17， 字数：29千字（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
| 下载次数： | 1次 | |
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