| 资料名称： | SJ20147.1-1992 SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 Ｘ射线荧光光谱法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1992-11-19◎ | ||
| 实施日期： | 1993-05-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | SJ 20147.1-1992 | |
| 标准名称： | 银和银合金镀覆层厚度测量方法 Ｘ射线荧光光谱法 | |
| 英文名称： | Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry（仅供参考） | |
| 标准简介： | SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 Ｘ射线荧光光谱法 电子行业标准(SJ) SJ20147.1-1992 本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量，也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | （仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | （仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 中国华晶电子集团公司等单位（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | （仅供参考） |
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| 页 数： | 9页（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
| 下载次数： | 6次 | |
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