| 资料名称： | GB/T20175-2006 GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 2006-03-27◎ | ||
| 实施日期： | 2006-11-01◎ | ||
| 首发日期： | 2006-03-27◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | 2006-11-01◎ |
| 标准编号： | GB/T 20175-2006 | |
| 标准名称： | 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 | |
| 英文名称： | Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 国家标准(GB) GB/T20175-2006 本标准采用适当的单层和多层膜系参考物质，提供优化溅射深度剖析参数的指南。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | IDT ISO 14606:2000（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 清华大学电子工程系（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开 页数：19, 字数：30千字（仅供参考） | |
| 书 号： | （仅供参考） | |
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