| 资料名称： | GB/T17722-1999 GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 |
| 标准类别： |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | ◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1999-04-01◎ | ||
| 实施日期： | 1999-01-02◎ | ||
| 首发日期： | 1999-04-11◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | 2004-04-16◎ |
| 标准编号： | GB/T 17722-1999 | |
| 标准名称： | 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 | |
| 英文名称： | Gold-plated thickness measurement by SEM（仅供参考） | |
| 标准简介： | GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 国家标准(GB) GB/T17722-1999 本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。 压缩包解压密码：www.51zbz.com | |
| 推荐链接： | 载入中 | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 中国科学院北京科仪研制中心（仅供参考） | |
| 起 草 人： | （仅供参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（仅供参考） |
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| 页 数： | 平装16开， 页数：7， 字数：10千字（仅供参考） | |
| 书 号： | 155066.1-15975（仅供参考） | |
| 下载次数： | 2次 | |
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